| Номер документа в системі: | 30299 |
| Автор: | Gebhardt O. |
| Назва документа: | SIMS depth profiling, line scanning and imaging analyses of the oxide layer on in-reactor corroded cladding specimens with high lateral resolution |
| Рік видання: | 1999 |
| УДК | 53 |
| Мова документу | Англійська |
| Шифр документу | 53 |
| Кількість сторінок | 6c. |